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費(fèi)希爾多功能電解測厚儀基本款

根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系。

COULOSCOPE  CMS2庫侖電解測厚儀--作為測量鍍層厚度最簡單的方法之一，庫侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu)， 當(dāng)允許破壞性測量時，它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。

COULOSCOPE  CMS2測量印刷線路板上剩余純錫的厚度

COULOSCOPE CMS2 的應(yīng) 用實(shí)例：電鍍緊固件， 測量 PCB 板上的剩余純錫厚度， 鍍鉻件以及浴室用品

固定工件的臺虎鉗，也同樣可以安裝在 V18 和 V24 的支撐板上
 

COULOSCOPE  CMS2庫侖法圖解介紹

COULOSCOPE  CMS2：
CMS 型儀器可以快速、準(zhǔn)確地測量任何基材上幾乎所有金屬鍍層的厚度，甚至是多鍍層的厚度。它的測量是一個通過庫侖法進(jìn)行反電鍍的過程。儀器采用了菜單式界面、操作簡便，是對電鍍產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控和來料檢驗(yàn)的理想選擇。

Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀特征：
1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 （庫侖測量系統(tǒng)）使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個大的，易讀取的液晶顯示器，直觀的菜單指引系統(tǒng)，該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度，包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。
2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 地測量范圍在0.05 - 40 ?m （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
3、用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個單個的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中，對多層鎳的測量變得越來越重要了，雙層鎳的測量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。

庫侖法是一種電化學(xué)分析方法，簡單易行，可用于確定金屬涂層的厚度。雖然主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量，但該方法也適用于監(jiān)測印刷電路板上剩余純錫的厚度。 

Couloscope CMS2 庫侖法測厚儀基本操作：
設(shè)立應(yīng)用程式例如 0.5umCr/4umNi/10umCu/Fe：  MENU→在應(yīng)用程式欄中選擇新建應(yīng)用程式（0）→挑一個空的序號，例如 5 即輸入數(shù)字 5→ENTER→用上下箭頭選擇鍍層數(shù) Select number of coatings，例如 3 coatings→確認(rèn)→選擇測量頂層鍍層 Cr/Ni 的應(yīng)用程式和電解速度（電解速度根據(jù)實(shí)際鍍層厚度選擇，一般電解時間控制在 1分鐘左右），按 PAGE 軟鍵可以翻頁，依據(jù)本例選 16 即輸入數(shù)字 16→確認(rèn)→選擇墊圈 gasket 的尺寸，例如ф1.5mm（yellow）→確認(rèn)→選擇測量中間層 Ni/Cu 的應(yīng)用程式 43，輸入數(shù)字 43→確認(rèn)→選擇墊圈 gasket 的尺寸，注意：同一個應(yīng)用程式，只能用一種墊圈尺寸，所以還選ф1.5mm
（yellow）→確認(rèn)→選擇測量里層鍍層 Cu/Fe 的應(yīng)用程式 33，輸入數(shù)字 33→確認(rèn)→選擇墊圈
gasket 的尺寸ф1.5mm（yellow）→確認(rèn)，這時可以看到剛才建立應(yīng)用程式的信息，請核對是否正確，按 ENTER 鍵可以跳到下一個項(xiàng)目，按數(shù)字 2，8 鍵可以切換當(dāng)前選項(xiàng)→確認(rèn)→這時可以更改應(yīng)用程式的名稱，按數(shù)字 2，4，6，8 鍵可以選擇所需字符，按 ENTER CHAR 軟鍵可以輸入選定字符→CONFIRM，回到測量狀態(tài)，應(yīng)用程式已建立。