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微型三角度光澤儀 μ
光澤和厚度測(cè)量集于一身

高效的涂裝工藝是使用盡可能少的涂料來達(dá)到客戶要求的質(zhì)量規(guī)格。光澤和厚度是評(píng)估涂層質(zhì)量的重要參數(shù)。微型三角度光澤儀 μ 可在幾秒內(nèi)在同一個(gè)測(cè)量點(diǎn)上測(cè)量這兩個(gè)參數(shù)，不僅節(jié)省時(shí)間而且在現(xiàn)場(chǎng)使用也十分理想 - 僅需攜帶一臺(tái)儀器。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，以特定折光指數(shù)（通常為： 1.567）的黑色玻璃標(biāo)準(zhǔn)板的反射值為100光澤單位。反射儀通常有多個(gè)不同入射角度的光源結(jié)構(gòu)。標(biāo)準(zhǔn)的角度是20º， 60º和85º。

涂料，油漆，塑料以及類似材料：

根據(jù)以下不同領(lǐng)域的應(yīng)用使用不同的測(cè)量角度：
中光澤表面使用60º測(cè)量角，測(cè)量范圍在10到70GU（光澤單位）范圍內(nèi)。
對(duì)于用60º測(cè)量度數(shù)超過70GU的高反射表面，需使用20º測(cè)量角測(cè)量。
對(duì)于用60º測(cè)量度數(shù)超過10GU的粗糙的表面，需使用85º測(cè)量角測(cè)量。

陽(yáng)極電鍍鋁和其它金屬表面：

儀器具有更大的測(cè)量范圍用于測(cè)量非常高光澤的樣品。
非金屬材料表面的反射率會(huì)隨入射角加大而提高，金屬的反射特性并不于此相似。因?yàn)橛卸畏瓷洌匆徊糠止獗煌繉颖砻娣瓷?，另一部分被底部的金屬反射。為了得到這些表面的全部反射特性，建議在他們上面測(cè)量全部的角度。除了可以查看以黑色玻璃標(biāo)準(zhǔn)板為參考的（ GU 光澤單位）， 還能以金屬領(lǐng)域內(nèi)的反射光的數(shù)量為參考的 % （反射率）。您能在標(biāo)尺菜單中進(jìn)行選擇。
注釋：正確的測(cè)量只能在平整的表面進(jìn)行。
不能在有灰塵，劃傷或在測(cè)試樣板彎曲的部位進(jìn)行測(cè)量，如需測(cè)量也只能通過測(cè)量光澤平均值的方法度量樣品的損壞程度。此外由于測(cè)試樣品的表面不均質(zhì)，測(cè)量的光澤不是恒定。故只能在樣品
的不同部位進(jìn)行測(cè)量并計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差。如果樣品具有明顯的結(jié)構(gòu)或光澤的特性具有方向性，這種結(jié)構(gòu)特性和入射光的方向必須在測(cè)試報(bào)告中注明。例如一些需要測(cè)量多次才能通過審核（例如：風(fēng)化樣品）的樣品必須在樣品上標(biāo)注記號(hào)以確保每次在相同的點(diǎn)測(cè)量，使測(cè)量具有重復(fù)性。

膜厚測(cè)量：

膜厚探頭的功能是根據(jù)電磁感應(yīng)方式（Fe）或電渦流方式（NFe）。 因此測(cè)量結(jié)果在高磁場(chǎng)或電磁波的環(huán)境下產(chǎn)生偏差。測(cè)量的膜厚受到磁性（ Fe）或非磁性（NFe）金屬基材厚度的影響。測(cè)量結(jié)果還會(huì)受到諸如復(fù)合物或底材熱處理的影響發(fā)生偏差。應(yīng)此推薦在沒有涂層的產(chǎn)品上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)后再進(jìn)行樣品測(cè)量。對(duì)于粗糙的表面也會(huì)影響涂層厚度的測(cè)量。為了降低隨機(jī)誤差，建議使用多點(diǎn)測(cè)量法。
如果是在附有非磁性金屬層的磁性基材（例如：鍍鋅鐵板）上測(cè)量涂層膜厚，請(qǐng)注意以下幾點(diǎn)：
● 用于NFe設(shè)置，基材厚度至少50µm。（ 例如非磁性涂層）
● 用于Fe設(shè)置，非磁性涂層厚度已包含在測(cè)量結(jié)果中。